日本経済新聞－2000年1月29日

新聞記事の内容
大阪大学などの共同研究チームは金属や半導体の内部にある電子の様子を観測することに成功した。播磨科学公団都市(兵庫県）の大型放射光施設「SPring-8」を利用した。既存技術では材料表面の電子しか観測できないが、内部の電子状態が分かれば産業応用の見込める新しい超電導体や半導体材料の開発に役立つという。
研究は菅滋正・阪大大学院基礎工学研究科教授を中心に日本原子力研究所の関西研究所、放射光施設を運営する高輝度光科学研究センターが共同で実施。SPring-8が出す強い光を試料に当て、試料から飛び出してくる電子を測定することで内部の電子のエネルギー状態を探った。
二種類のセリウム化合物に放射光を当てたところ、低いエネルギーの光ではほとんど差がないのに、その７倍にあたる大きなエネルギー（880電子ボルト）の光を当てると異なる結果になった。高エネルギーの光を当てた場合は、材料の表面だけでなく内部の電子状態を反映したデータが得られるためという。
材料内部の電子状態は、電流の流れやすさなど物質の性質を解明するカギになる。菅教授は「材料内部の電子状態を観測したのは世界で初めて」と話している。

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